Model XF-P1 là một loại máy phân tích độ dày lớp phủ dành cho ngành sản xuất công nghiệp kiểm tra lớp phủ, có thể được sử dụng rộng rãi trong nhiều ngành mạ điện, mạ hóa học, xi mạ nữ trang và các ngành công nghiệp khác. Máy được trang bị bộ dò tìm Si-PIN tùy chỉnh của Hoa Kỳ, máy tính công nghiệp tích hợp và ứng dụng thuật toán Smart FP. Không cần mẫu chuẩn, độ dày và thành phần của lớp phủ có thể được phát hiện cùng một lúc. Hiệu suất cao giúp máy phân tích nhanh, ổn định và chính xác.
Dải Thành phần
K(No.19)~U(No.92)
Độ chính xác
RSD±2.5%（thickness）
Vận hành dễ dàng
One-click testing
Phân tích đa cấp
Hỗ trợ tối đa bốn lớp
thuật toán thông minh
Phân tích đồng thời Độ dày và thành phần hợp kim
Hậu mãi
Bảo hành 2 năm
Hỗ trợ kỹ thuật 7 ngày/ tuần
Reviews
There are no reviews yet.