Model XF-P3 là loại máy phân tích độ dày lớp phủ hiệu suất cao được thiết kế dành cho ngành kiểm tra lớp phủ. Máy được trang bị đầu dò Detector Fast-SDD, Ray-tube, HV từ USA, có máy tính điều khiển công nghiệp tích hợp, ứng dụng thuật toán Smart FP, không cần mẫu chuẩn và có thể phát hiện chính xác độ dày và thành phần lớp phủ cùng một lúc. Nó có thể được sử dụng rộng rãi trong các ngành công nghiệp khác nhau như mạ điện, mạ hóa học, đầu nối, giải pháp mạ điện và phân tích lớp phủ PCB. Hiệu suất của máy phân tích nhanh, ổn định và chính xác.
Dải Thành phần
Al(No.13)~U(No.92)
hệ thống đa lõi
0.1*0.2mm/ 0.2*0.5mm/ Φ1.0mm
Độ chính xác
RSD±1.5%（thickness)
thuật toán thông minh
Phân tích đồng thời Độ dày và thành phần lớp phủ
XY platform
Dễ dàng kiểm tra các mẫu nhỏ, Hành trình: 30 × 30 mm
khả năng Phân tích đa cấp
Hỗ trợ đo đa tầng lên tới 10 lớp cùng lúc
Reviews
There are no reviews yet.